Seica hat offiziell die OPERA-Serie vorgestellt, die neue Generation von Testlösungen, die entwickelt wurde, um den steigenden Anforderungen und der zunehmenden Komplexität der modernen Elektronikfertigung gerecht zu werden.

Der Name mag an die italienische Operntradition erinnern, OPERA steht tatsächlich jedoch für „Open Era“ und bringt damit die Philosophie von Seica zum Ausdruck: Offenheit als Grundlage für Flexibilität, kundenspezifische Lösungen und Innovation. Dieser Ansatz wurde erstmals 1992 mit der VIP™-Plattform eingeführt. Er verbindet eine zentrale Hardware- und Softwarearchitektur mit modularen Elementen und ermöglicht dadurch skalierbare, anwendungsspezifisch konfigurierte Lösungen. OPERA stellt die jüngste Weiterentwicklung dieses Konzepts dar und erweitert Seicas offene Plattform, um jahrzehntelange technologische Erfahrung auf das gesamte Spektrum der Testsysteme zu übertragen.

Entwickelt für den gesamten Produktlebenszyklus – vom Prototypenbau und der Einführung neuer Produkte (NPI) über die Serienfertigung bis hin zu Reparatur und Wartung – lassen sich die OPERA-Systeme für unterschiedlichste Testanforderungen konfigurieren.

Dazu gehören unter anderem In-Circuit-Test (ICT), Funktionstest (FCT), Boundary-Scan-Test, LED-Tests, kapazitive Prüfungen sowie das Programmieren von Baugruppen im eingebauten Zustand (On-Board Programming). Die offene Architektur ermöglicht zudem die vollständige Integration externer Mess- und Prüfgeräte sowie die Interoperabilität mit Softwarelösungen von Drittanbietern.

Die OPERA-Serie umfasst das vollständige Portfolio von Seica an Testlösungen für elektronische Leiterplatten und Baugruppen – von einfachen bis hin zu hochkomplexen Anwendungen. Dazu zählen unter anderem Elektronik für Elektrofahrzeuge (EV), Batteriesysteme, Probe Cards sowie Leistungselektronik und Leistungskomponenten.

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